IEC 60068 標準系列中的三個部分，即IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2 和 IEC 60068-2-14，涵蓋了與溫度試驗相關的內容。以下對這些部分說明：

1. IEC 60068-2-1：2007 低溫試驗（Cold Test）

1.1 適用範疇：如電子設備、車用部件、工業部件、醫療用品...等

1.2 試驗說明：分為三種測試方法Ab、Ad、Ae

      Ab方法- 非發熱測試件，隨著溫度的逐漸變化進行測試。

      Ad方法- 發熱測試件，隨著溫度的逐漸變化進行測試。

      Ae方法- 發熱測試件，隨著溫度的逐漸變化進行測試，全程動態測試。

      備註：發熱測試件定義為通電後，待測試件溫度穩定時，量測其最高溫度高於室溫5℃以上；反之，為非發熱測試件。

1.3 試驗步驟：

      Ab方法：1-以靜態(不通電狀態)方式進行量測及檢驗，將測試件放入測試區(室溫狀態)內。

                     2-測試區執行運轉，以溫度斜率不超過1℃/min進行降溫。

                     3-測試件溫度穩定後，依規定時間駐留至試驗結束。測試件穩定狀態為各點溫度不超過±3℃。

                     4-試驗完成後，以溫度斜率不超過1℃/min回至常溫狀態。

                     5-等待適當的時間(最少1小時)讓狀態回復後，測試件進行量測及檢驗。

      Ad方法：1-以動態(通電狀態)方式進行量測及檢驗，將測試件放入測試區(室溫狀態)內。

                     2-測試區執行運轉，以溫度斜率不超過1℃/min進行降溫。

                     3-測試件溫度穩定後，依規定時間駐留至試驗結束。測試件穩定狀態為各點溫度不超過±3℃。

                     4-試驗完成後，以溫度斜率不超過1℃/min回至常溫狀態，此時測試件應不通電。

                     5-等待適當的時間(最少1小時)讓狀態回復後，測試件進行量測及檢驗。

      Ae方法：1-以動態(通電狀態)方式進行量測及檢驗，將測試件放入測試區(室溫狀態)內。

                     2-測試區執行運轉，以溫度斜率不超過1℃/min進行降溫。

                     3-測試件溫度穩定後，依規定時間駐留至試驗結束。測試件穩定狀態為各點溫度不超過±3℃。

                     4-試驗完成後，以溫度斜率不超過1℃/min回至常溫狀態。此時測試件持續通電。

                     5-等待適當的時間(最少1小時)讓狀態回復後，測試件進行量測及檢驗。

1.4 試驗條件：

• 溫度：-65 / -55 / -50 / -40 / -25 / -20 / -10 / -15 / 5 ℃，擇其選擇測試件能耐受之適當溫度。

• 駐留時間：2 / 16 / 72 / 96 小時或依照相關規範設置。

• 溫度斜率：不超過1℃/min，以五分鐘內平均計算。

• 容許誤差：-25℃±3℃、-65℃±5℃。

適用設備：

可程式恆溫恆濕試驗機(Temperature/Humidity Test Chamber)

特點：適用於高溫/低溫、高低溫循環、濕度測試需求使用。

桌上型微電腦溫度箱(Desktop Temperature Test Chamber)

特點：適用於高溫/低溫、高低溫循環、需求使用。

2. IEC 60068-2-2：2007 高溫試驗（Heat Test）

2.1 適用範疇：如電子設備、車用部件、工業部件、醫療用品...等

2.2 試驗說明：分為三種測試方法Bb、Bd、Be

      Bb方法- 非發熱測試件，隨著溫度的逐漸變化進行測試。

      Bd方法- 發熱測試件，隨著溫度的逐漸變化進行測試。

      Be方法- 發熱測試件，隨著溫度的逐漸變化進行測試，全程動態測試。

      備註：發熱測試件定義為通電後，待測試件溫度穩定時，量測其最高溫度高於室溫5℃以上；反之，為非發熱測試件。

2.3 試驗步驟：

      Bb方法：1-以靜態(不通電狀態)方式進行量測及檢驗，將測試件放入測試區(室溫狀態)內。

                     2-測試區執行運轉，以溫度斜率不超過1℃/min進行升溫。

                     3-測試件溫度穩定後，依規定時間駐留至試驗結束。測試件穩定狀態為各點溫度不超過±3℃。

                     4-試驗完成後，以溫度斜率不超過1℃/min回至常溫狀態。

                     5-等待適當的時間(最少1小時)讓狀態回復後，測試件進行量測及檢驗。

      Bd方法：1-以動態(通電狀態)方式進行量測及檢驗，將測試件放入測試區(室溫狀態)內。

                     2-測試區執行運轉，以溫度斜率不超過1℃/min進行升溫。

                     3-測試件溫度穩定後，依規定時間駐留至試驗結束。測試件穩定狀態為各點溫度不超過±3℃。

                     4-試驗完成後，以溫度斜率不超過1℃/min回至常溫狀態，此時測試件應不通電。

                     5-等待適當的時間(最少1小時)讓狀態回復後，測試件進行量測及檢驗。

      Be方法：1-以動態(通電狀態)方式進行量測及檢驗，將測試件放入測試區(室溫狀態)內。

                     2-測試區執行運轉，以溫度斜率不超過1℃/min進行升溫。

                     3-測試件溫度穩定後，依規定時間駐留至試驗結束。測試件穩定狀態為各點溫度不超過±3℃。

                     4-試驗完成後，以溫度斜率不超過1℃/min回至常溫狀態。此時測試件持續通電。

                     5-等待適當的時間(最少1小時)讓狀態回復後，測試件進行量測及檢驗。

2.4 試驗條件：

• 溫度：315 / 250 / 200 / 175 / 155 / 125 / 100 / 85 / 70 / 65 / 60 / 55 / 50 / 45 / 40 ℃，擇其選擇測試件能耐受之適當溫度。

• 駐留時間：2 / 16 / 72 / 96 / 168 / 240 / 336 / 1000 小時或依照相關規範設置。

• 溫度斜率：不超過1℃/min，以五分鐘內平均計算。

• 容許誤差：100℃以內±3℃、100℃~200℃±5℃、200℃~315℃±10℃。

適用設備：

可程式恆溫恆濕試驗機(Temperature/Humidity Test Chamber)

特點：適用於高溫/低溫、高低溫循環、濕度測試需求使用。

桌上型微電腦溫度箱(Desktop Temperature Test Chamber)

特點：適用於高溫/低溫、高低溫循環、需求使用。

精密烘箱系列(Precision Oven)

特點：適用於高溫需求使用，最高可達500℃。

特點：適用於待測物體積小或單次測試數量少...等條件需求，本系列有桌上型及落地型，最高可達250℃。

3. IEC 60068-2-14：2009 溫度變化試驗（Change of Temperature Test）

3.1 適用範疇：如電子設備、車用部件、工業部件、醫療用品...等

3.2 試驗說明：分為三種測試方法Na、Nb、Nc，僅Na、Nb根據IEC 60068-2-1(低溫)、IEC 60068-2-2(高溫)定義試驗溫度，Nc除外

      Na方法- 快速溫度變化試驗。

      Nb方法- 溫度變率試驗。

      Nc方法- 雙液體浸泡法之快速溫度變化試驗。

      備註：發熱測試件定義為通電後，待測試件溫度穩定時，量測其最高溫度高於室溫5℃以上；反之，為非發熱測試件。

3.3 試驗步驟：

      Na方法：1-試驗前針對測試件執行目檢、電氣、機械結構及其他必要項目進行相關檢查。(以無包裝及不通電情況下)

                     2-以無包裝及靜態下放入測試區，此時測試區應保持室溫(25℃±5℃)。

                     3-將兩個儲溫箱運行至指定之高溫及低溫溫度，並進行準備動作。

                     4-將測試區轉移至低(高)溫並依規定時間駐留。

                     5-將測試區轉移至高(低)溫並依規定時間駐留。

                     備註：高、低溫之間的轉換時間依相關規定試驗條件設置。

                     7-重複執行步驟4~5，基本循環5次，如有另外規定則依規定執行。

                     8-試驗結束，將測試區回復一般狀態環境，放置一段時間。

                     9-將測試件取出，如步驟1執行相關檢查。

      Nb方法：1-試驗前針對測試件執行目檢、電氣、機械結構及其他必要項目進行相關檢查。(以無包裝及不通電情況下)

                     2-以無包裝及靜態下放入測試區，此時測試區應保持室溫(25℃±5℃)，如有特殊規定則可以動態測試下進行。

                     3-將測試區運行至指定之低(高)溫條件並依規定時間駐留，進行試驗。

                     4-將測試區運行至指定之高(低)溫條件並依規定時間駐留，進行試驗。

                     備註：高、低溫之間的溫度斜率依相關規定試驗條件設置。

                     5-重複執行步驟3~4，基本循環2次，如有另外規定則依規定執行。

                     6-試驗結束，將測試區回復一般狀態環境，放置一段時間。

                     7-將測試件取出，如步驟1執行相關檢查。

      Nc方法：1-試驗前針對測試件執行目檢、電氣、機械結構及其他必要項目進行相關檢查。(以無包裝及不通電情況下)

                     2-以無包裝及靜態下放入測試區。

                     3-將兩個液箱運行至指定之高溫及低溫溫度，並進行準備動作。

                     4-將測試區轉移至低(高)溫並依規定時間駐留。

                     5-將測試區轉移至高(低)溫並依規定時間駐留。

                     備註：高、低溫之間的轉換時間依相關規定試驗條件設置。

                     7-重複執行步驟4~5，基本循環10次，如有另外規定則依規定執行。

                     8-試驗結束，將測試區回復一般狀態環境，放置一段時間。

                     9-將測試件取出，如步驟1執行相關檢查。

3.4 試驗條件：

      Na條件：    

• 高溫溫度：315 / 250 / 200 / 175 / 155 / 125 / 100 / 85 / 70 / 65 / 60 / 55 / 50 / 45 / 40 ℃，擇其選擇測試件能耐受之適當溫度。

• 低溫溫度：-65 / -55 / -50 / -40 / -25 / -20 / -10 / -15 / 5 ℃，擇其選擇測試件能耐受之適當溫度。

• 駐留時間：3hr / 2hr / 1hr / 30 min / 10 min 或依照相關規範設置。

• 循環數：5 cycles 。

• 容許誤差：100℃以內±3℃、100℃~200℃±5℃、200℃~315℃±10℃。

• 空間擺放：測試件之間或測試件與壁面之間需有10cm以上，避免熱輻射以及有利於空氣流動。

      Nb條件：    

• 高溫溫度：315 / 250 / 200 / 175 / 155 / 125 / 100 / 85 / 70 / 65 / 60 / 55 / 50 / 45 / 40 ℃，擇其選擇測試件能耐受之適當溫度。

• 低溫溫度：-65 / -55 / -50 / -40 / -25 / -20 / -10 / -15 / 5 ℃，擇其選擇測試件能耐受之適當溫度。

• 駐留時間：3hr / 2hr / 1hr / 30 min / 10 min 或依照相關規範設置。

• 溫度斜率：(1±0.2)℃/min、(3±0.6)℃/min、(5±1)℃/min、(10±2)℃/min、(15±3)℃/min或依照相關規範設置。

• 循環數：2 cycles 。

• 容許誤差：100℃以內±3℃、100℃~200℃±5℃、200℃~315℃±10℃。

• 空間擺放：測試件之間或測試件與壁面之間需有10cm以上，避免熱輻射以及有利於空氣流動。

      Nc條件：    

• 液體說明：使用不會損壞測試件本體及氣密，並符合使用條件特性之液體。

• 高溫溫度：基準100℃或依照相關規範設置。

• 低溫溫度：基準0 ℃或依照相關規範設置。

• 駐留時間：依照相關規範設置。

• 循環數：10 cycles 。

• 容許誤差：高溫液體不得低於設定溫度5℃、低溫液體不得高於設定溫度2℃。

適用設備：

冷熱衝擊試驗機(Thermal Shock Chamber)

特點：氣體式冷熱衝擊試驗機，測試件不移動，箱體尺寸可客製。